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NEWS INFORMATION測(cè)試結(jié)果重復(fù)性差？排查L(zhǎng)ONGPEAK靜電放電發(fā)生器接地與放電槍頭維護(hù)的常見(jiàn)問(wèn)題
2026-07-23 在消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、醫(yī)療設(shè)備的EMC認(rèn)證流程中，靜電放電抗擾度測(cè)試是必測(cè)項(xiàng)目，不少測(cè)試工程師使用LONGPEAK靜電放電發(fā)生器開(kāi)展IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)，會(huì)遇到同一樣品、同一測(cè)試點(diǎn)兩次測(cè)試結(jié)果偏差超過(guò)10%的問(wèn)題，輕則反復(fù)復(fù)測(cè)拉長(zhǎng)項(xiàng)目周期，重則導(dǎo)致認(rèn)證送檢失敗。這類(lèi)測(cè)試結(jié)果重復(fù)性差的問(wèn)題，大多和接地布置不規(guī)范、放電槍頭維護(hù)不到位有關(guān)，可按照以下思路逐一排查。首先是接地鏈路的合規(guī)性檢查。標(biāo)準(zhǔn)要求靜電放電測(cè)試需鋪設(shè)面積不小于1m×1.2m的金屬參考接地板，且與實(shí)驗(yàn)室...ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在半導(dǎo)體失效分析中的實(shí)戰(zhàn)案例
2026-06-24 半導(dǎo)體器件的高集成度和微細(xì)化，使失效分析對(duì)分辨率、成像質(zhì)量和成分識(shí)別提出了更高要求。ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡憑借穩(wěn)定的電子光學(xué)系統(tǒng)和優(yōu)異的低加速電壓成像能力，在實(shí)際工程案例中成為定位缺陷根源的重要工具。在某功率器件失效分析中，樣品表現(xiàn)為高溫工作下漏電流異常增大。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡只能觀察到表面輕微變色，無(wú)法解釋電性變化。將樣品置于ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡下，在低加速電壓條件下對(duì)柵極邊緣進(jìn)行高倍成像，可清晰分辨出數(shù)納米尺度的介質(zhì)層裂紋。這些裂紋在高電場(chǎng)作用下形成局部漏電通道，導(dǎo)致器...EMKU高低溫箱日常維護(hù)保養(yǎng)指南：關(guān)鍵部件維護(hù)與易損件更換建議
2026-01-21 EMKU高低溫箱作為精密的環(huán)境測(cè)試設(shè)備，其穩(wěn)定運(yùn)行離不開(kāi)規(guī)范的日常維護(hù)保養(yǎng)。壓縮機(jī)作為制冷系統(tǒng)的核心部件，其保養(yǎng)質(zhì)量直接關(guān)系到設(shè)備的制冷效率和壽命。日常維護(hù)中，需要定期檢查壓縮機(jī)運(yùn)行狀態(tài)，包括觀察運(yùn)行電流是否在額定范圍內(nèi)、聽(tīng)運(yùn)行聲音是否異常、檢查油位是否正常。建議每運(yùn)行500小時(shí)檢查一次壓縮機(jī)潤(rùn)滑油，每運(yùn)行2000小時(shí)更換一次潤(rùn)滑油，確保潤(rùn)滑系統(tǒng)清潔。同時(shí)，要定期清理壓縮機(jī)散熱器上的灰塵，保持良好散熱，避免因散熱不良導(dǎo)致壓縮機(jī)過(guò)載。密封條是保證箱體密封性的關(guān)鍵易損件，其老化會(huì)...掃描電鏡測(cè)試的樣品制備要求與導(dǎo)電處理方法?
2025-12-17 掃描電鏡測(cè)試?利用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，通過(guò)檢測(cè)二次電子、背散射電子等信號(hào)獲得高分辨率的微觀形貌與成分信息。由于電子束與樣品相互作用依賴(lài)良好的導(dǎo)電性和真空兼容性，樣品制備與導(dǎo)電處理直接決定成像質(zhì)量與測(cè)試成功率。一、樣品制備基本要求?尺寸與形狀?樣品需能放入樣品倉(cāng)且不與極靴或檢測(cè)器碰撞，常規(guī)臺(tái)式SEM樣品臺(tái)直徑多在10–32mm范圍，高度表面清潔?去除油污、灰塵與松散顆粒，可用無(wú)水乙醇、丙酮等溶劑超聲清洗，必要時(shí)等離子清洗去除有機(jī)殘留。表面污染會(huì)在成像中產(chǎn)生假象或影響成...TEM/SEM/FIB測(cè)試中的常見(jiàn)誤區(qū)與數(shù)據(jù)誤讀警示
2025-11-22 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體、新能源等前沿領(lǐng)域，TEM/SEM/FIB測(cè)試已成為納米尺度表征的“標(biāo)配”。然而，由于設(shè)備復(fù)雜、樣品敏感、操作專(zhuān)業(yè)性強(qiáng)，實(shí)踐中常因認(rèn)知偏差或操作不當(dāng)導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤讀，甚至得出錯(cuò)誤結(jié)論。常見(jiàn)誤區(qū)一：將SEM圖像直接當(dāng)作真實(shí)三維形貌。SEM僅提供表面二維投影信息，高深寬比結(jié)構(gòu)(如納米線陣列)易因電子陰影效應(yīng)產(chǎn)生視覺(jué)扭曲。若未結(jié)合多角度成像或3D重構(gòu)，可能誤判孔隙連通性或顆粒堆疊狀態(tài)。誤區(qū)二：忽視FIB制樣引入的人為損傷。FIB使用鎵離子束切割樣品，雖精度達(dá)納米級(jí)，但...高速攝像機(jī)FASTCAM選購(gòu)有技巧，切勿盲目
2025-10-21 在汽車(chē)碰撞測(cè)試、材料動(dòng)態(tài)斷裂分析、生物運(yùn)動(dòng)捕捉等高速瞬態(tài)現(xiàn)象研究中，高速攝像機(jī)是記錄關(guān)鍵幀的“時(shí)間顯微鏡”。高速攝像機(jī)FASTCAM作憑借高幀率、高分辨率和出色的低光照性能備受青睞。但面對(duì)不同型號(hào)(如FASTCAMSA-Z、MINIUX等)的參數(shù)差異，選購(gòu)時(shí)若盲目追求“高指標(biāo)”，可能導(dǎo)致性能過(guò)?；蚬δ苋笔АＵ莆找韵逻x購(gòu)技巧，才能精準(zhǔn)匹配需求。一、明確核心需求：高速攝像機(jī)的核心參數(shù)是幀率(每秒拍攝幀數(shù))和分辨率(圖像像素?cái)?shù)量)，二者相互制約——幀率越高，單幀分辨率往往越低。因此...新手必讀：EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱的快速上手指南與操作步驟
2025-09-18 EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用于模擬產(chǎn)品在高低溫異常環(huán)境間快速轉(zhuǎn)換(如從-40℃驟升至85℃，或反之)的可靠性測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元件、汽車(chē)零部件、航空航天材料等領(lǐng)域的質(zhì)量驗(yàn)證。對(duì)于新手而言，掌握其快速上手指南與規(guī)范操作步驟，是安全、高效開(kāi)展試驗(yàn)的基礎(chǔ)。一、操作前準(zhǔn)備：1.環(huán)境要求：試驗(yàn)箱需放置在平整、通風(fēng)良好的室內(nèi)，避免陽(yáng)光直射(防止箱體溫度受外界干擾)與靠近熱源(如暖氣、烤箱)。環(huán)境溫度建議控制在5-35℃(超出此范圍可能影響制冷/制熱效率)，地面承重需滿足設(shè)備自重(通常...公司郵箱： jfyp@tu-zhe.cn
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