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NEWS INFORMATIONZEISS場發(fā)射掃描電鏡在半導體失效分析中的實戰(zhàn)案例
2026-06-24 半導體器件的高集成度和微細化，使失效分析對分辨率、成像質量和成分識別提出了更高要求。ZEISS場發(fā)射掃描電鏡憑借穩(wěn)定的電子光學系統(tǒng)和優(yōu)異的低加速電壓成像能力，在實際工程案例中成為定位缺陷根源的重要工具。在某功率器件失效分析中，樣品表現(xiàn)為高溫工作下漏電流異常增大。傳統(tǒng)光學顯微鏡只能觀察到表面輕微變色，無法解釋電性變化。將樣品置于ZEISS場發(fā)射掃描電鏡下，在低加速電壓條件下對柵極邊緣進行高倍成像，可清晰分辨出數(shù)納米尺度的介質層裂紋。這些裂紋在高電場作用下形成局部漏電通道，導致器...EMKU高低溫箱日常維護保養(yǎng)指南：關鍵部件維護與易損件更換建議
2026-01-21 EMKU高低溫箱作為精密的環(huán)境測試設備，其穩(wěn)定運行離不開規(guī)范的日常維護保養(yǎng)。壓縮機作為制冷系統(tǒng)的核心部件，其保養(yǎng)質量直接關系到設備的制冷效率和壽命。日常維護中，需要定期檢查壓縮機運行狀態(tài)，包括觀察運行電流是否在額定范圍內(nèi)、聽運行聲音是否異常、檢查油位是否正常。建議每運行500小時檢查一次壓縮機潤滑油，每運行2000小時更換一次潤滑油，確保潤滑系統(tǒng)清潔。同時，要定期清理壓縮機散熱器上的灰塵，保持良好散熱，避免因散熱不良導致壓縮機過載。密封條是保證箱體密封性的關鍵易損件，其老化會...TEM/SEM/FIB測試中的常見誤區(qū)與數(shù)據(jù)誤讀警示
2025-11-22 在材料科學、半導體、新能源等前沿領域，TEM/SEM/FIB測試已成為納米尺度表征的“標配”。然而，由于設備復雜、樣品敏感、操作專業(yè)性強，實踐中常因認知偏差或操作不當導致數(shù)據(jù)誤讀，甚至得出錯誤結論。常見誤區(qū)一：將SEM圖像直接當作真實三維形貌。SEM僅提供表面二維投影信息，高深寬比結構(如納米線陣列)易因電子陰影效應產(chǎn)生視覺扭曲。若未結合多角度成像或3D重構，可能誤判孔隙連通性或顆粒堆疊狀態(tài)。誤區(qū)二：忽視FIB制樣引入的人為損傷。FIB使用鎵離子束切割樣品，雖精度達納米級，但...EMKU冷熱沖擊試驗箱怎么挑？關鍵性能參數(shù)看這3點
2025-08-21 EMKU冷熱沖擊試驗箱用于模擬高低溫快速切換環(huán)境，考核電子、汽車、航空航天等領域產(chǎn)品的耐溫沖擊性能。挑選時無需盲目關注附加功能，重點把控以下3個關鍵性能參數(shù)，即可選出適配需求的高性價比設備。?一、關鍵參數(shù)1：溫度沖擊能力——匹配試驗嚴苛度?溫度沖擊能力是核心指標，需結合試驗標準(如IEC60068-2-14)與產(chǎn)品特性選擇，主要看兩方面：?溫度范圍：常規(guī)型號高溫區(qū)上限多為150℃、200℃，低溫區(qū)下限為-40℃、-60℃；若測試新能源電池、航空部件，需選高溫達250℃、低溫至...公司郵箱： jfyp@tu-zhe.cn
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