新聞資訊
NEWS INFORMATIONEMKU高低溫箱日常維護(hù)保養(yǎng)指南：關(guān)鍵部件維護(hù)與易損件更換建議
2026-01-21 EMKU高低溫箱作為精密的環(huán)境測(cè)試設(shè)備，其穩(wěn)定運(yùn)行離不開規(guī)范的日常維護(hù)保養(yǎng)。壓縮機(jī)作為制冷系統(tǒng)的核心部件，其保養(yǎng)質(zhì)量直接關(guān)系到設(shè)備的制冷效率和壽命。日常維護(hù)中，需要定期檢查壓縮機(jī)運(yùn)行狀態(tài)，包括觀察運(yùn)行電流是否在額定范圍內(nèi)、聽運(yùn)行聲音是否異常、檢查油位是否正常。建議每運(yùn)行500小時(shí)檢查一次壓縮機(jī)潤(rùn)滑油，每運(yùn)行2000小時(shí)更換一次潤(rùn)滑油，確保潤(rùn)滑系統(tǒng)清潔。同時(shí)，要定期清理壓縮機(jī)散熱器上的灰塵，保持良好散熱，避免因散熱不良導(dǎo)致壓縮機(jī)過載。密封條是保證箱體密封性的關(guān)鍵易損件，其老化會(huì)...掃描電鏡測(cè)試的樣品制備要求與導(dǎo)電處理方法?
2025-12-17 掃描電鏡測(cè)試?利用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，通過檢測(cè)二次電子、背散射電子等信號(hào)獲得高分辨率的微觀形貌與成分信息。由于電子束與樣品相互作用依賴良好的導(dǎo)電性和真空兼容性，樣品制備與導(dǎo)電處理直接決定成像質(zhì)量與測(cè)試成功率。一、樣品制備基本要求?尺寸與形狀?樣品需能放入樣品倉(cāng)且不與極靴或檢測(cè)器碰撞，常規(guī)臺(tái)式SEM樣品臺(tái)直徑多在10–32mm范圍，高度表面清潔?去除油污、灰塵與松散顆粒，可用無水乙醇、丙酮等溶劑超聲清洗，必要時(shí)等離子清洗去除有機(jī)殘留。表面污染會(huì)在成像中產(chǎn)生假象或影響成...TEM/SEM/FIB測(cè)試中的常見誤區(qū)與數(shù)據(jù)誤讀警示
2025-11-22 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體、新能源等前沿領(lǐng)域，TEM/SEM/FIB測(cè)試已成為納米尺度表征的“標(biāo)配”。然而，由于設(shè)備復(fù)雜、樣品敏感、操作專業(yè)性強(qiáng)，實(shí)踐中常因認(rèn)知偏差或操作不當(dāng)導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤讀，甚至得出錯(cuò)誤結(jié)論。常見誤區(qū)一：將SEM圖像直接當(dāng)作真實(shí)三維形貌。SEM僅提供表面二維投影信息，高深寬比結(jié)構(gòu)(如納米線陣列)易因電子陰影效應(yīng)產(chǎn)生視覺扭曲。若未結(jié)合多角度成像或3D重構(gòu)，可能誤判孔隙連通性或顆粒堆疊狀態(tài)。誤區(qū)二：忽視FIB制樣引入的人為損傷。FIB使用鎵離子束切割樣品，雖精度達(dá)納米級(jí)，但...高速攝像機(jī)FASTCAM選購(gòu)有技巧，切勿盲目
2025-10-21 在汽車碰撞測(cè)試、材料動(dòng)態(tài)斷裂分析、生物運(yùn)動(dòng)捕捉等高速瞬態(tài)現(xiàn)象研究中，高速攝像機(jī)是記錄關(guān)鍵幀的“時(shí)間顯微鏡”。高速攝像機(jī)FASTCAM作憑借高幀率、高分辨率和出色的低光照性能備受青睞。但面對(duì)不同型號(hào)(如FASTCAMSA-Z、MINIUX等)的參數(shù)差異，選購(gòu)時(shí)若盲目追求“高指標(biāo)”，可能導(dǎo)致性能過?；蚬δ苋笔?。掌握以下選購(gòu)技巧，才能精準(zhǔn)匹配需求。一、明確核心需求：高速攝像機(jī)的核心參數(shù)是幀率(每秒拍攝幀數(shù))和分辨率(圖像像素?cái)?shù)量)，二者相互制約——幀率越高，單幀分辨率往往越低。因此...新手必讀：EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱的快速上手指南與操作步驟
2025-09-18 EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用于模擬產(chǎn)品在高低溫異常環(huán)境間快速轉(zhuǎn)換(如從-40℃驟升至85℃，或反之)的可靠性測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元件、汽車零部件、航空航天材料等領(lǐng)域的質(zhì)量驗(yàn)證。對(duì)于新手而言，掌握其快速上手指南與規(guī)范操作步驟，是安全、高效開展試驗(yàn)的基礎(chǔ)。一、操作前準(zhǔn)備：1.環(huán)境要求：試驗(yàn)箱需放置在平整、通風(fēng)良好的室內(nèi)，避免陽(yáng)光直射(防止箱體溫度受外界干擾)與靠近熱源(如暖氣、烤箱)。環(huán)境溫度建議控制在5-35℃(超出此范圍可能影響制冷/制熱效率)，地面承重需滿足設(shè)備自重(通常...EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱怎么挑？關(guān)鍵性能參數(shù)看這3點(diǎn)
2025-08-21 EMKU冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于模擬高低溫快速切換環(huán)境，考核電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域產(chǎn)品的耐溫沖擊性能。挑選時(shí)無需盲目關(guān)注附加功能，重點(diǎn)把控以下3個(gè)關(guān)鍵性能參數(shù)，即可選出適配需求的高性價(jià)比設(shè)備。?一、關(guān)鍵參數(shù)1：溫度沖擊能力——匹配試驗(yàn)嚴(yán)苛度?溫度沖擊能力是核心指標(biāo)，需結(jié)合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(如IEC60068-2-14)與產(chǎn)品特性選擇，主要看兩方面：?溫度范圍：常規(guī)型號(hào)高溫區(qū)上限多為150℃、200℃，低溫區(qū)下限為-40℃、-60℃；若測(cè)試新能源電池、航空部件，需選高溫達(dá)250℃、低溫至...材料表征測(cè)試數(shù)據(jù)的處理與分析技巧全解析
2025-07-23 材料表征測(cè)試數(shù)據(jù)是深入了解材料性能、結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息的依據(jù)，掌握其處理與分析技巧至關(guān)重要。在數(shù)據(jù)處理方面，首先要進(jìn)行數(shù)據(jù)的整理與篩選。從各類儀器獲取的原始數(shù)據(jù)往往量大且繁雜，需剔除明顯異常的數(shù)據(jù)點(diǎn)，比如因儀器突發(fā)故障或外界干擾產(chǎn)生的錯(cuò)誤數(shù)值。對(duì)于重復(fù)測(cè)量的數(shù)據(jù)，可計(jì)算平均值來降低偶然誤差的影響，但要注意保留數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差等反映離散程度的指標(biāo)，以展現(xiàn)數(shù)據(jù)的可靠性范圍。同時(shí)，要根據(jù)測(cè)試手段的特性對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行適當(dāng)?shù)膯挝粨Q算、歸一化處理等，像X射線衍射數(shù)據(jù)中將不同角度的強(qiáng)度值進(jìn)行歸一化，便...半導(dǎo)體HBM測(cè)試儀延長(zhǎng)使用壽命的建議
2025-06-12 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展，高帶寬存儲(chǔ)器(HBM,HighBandwidthMemory)因其較好的數(shù)據(jù)傳輸性能，在高性能計(jì)算、人工智能和圖形處理等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。而半導(dǎo)體HBM測(cè)試儀作為評(píng)估其電氣性能與信號(hào)完整性的重要設(shè)備，承擔(dān)著確保產(chǎn)品質(zhì)量和穩(wěn)定性的關(guān)鍵任務(wù)。為了充分發(fā)揮HBM測(cè)試儀的投資效益，延長(zhǎng)其使用壽命，必須從日常使用、維護(hù)保養(yǎng)以及環(huán)境管理等多個(gè)方面入手。一、規(guī)范操作流程，避免人為誤操作HBM測(cè)試儀結(jié)構(gòu)精密，涉及高速信號(hào)采集、電源管理、探針定位等復(fù)雜系統(tǒng)。因此，操作...公司郵箱： jfyp@tu-zhe.cn
服務(wù)熱線： 021-61656613
公司地址： 上海市浦東新區(qū)金橋路939號(hào)207室
Copyright © 2026 上海途哲電子設(shè)備有限公司 Al Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19022890號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
HBM、MM測(cè)試儀 日本HBM測(cè)試儀 日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀 日本半導(dǎo)體HBM測(cè)試儀
當(dāng)前位置：